Luna为Pics和Silicon Photonics推出新的分析仪

Luna Innovations推出了Luna 6415.是我们下一代高性能，高分辨率分析仪的第一个产品，用于光子集成电路（PICS）和硅光子。

今天的数据通信带宽和容量中的极端扩展取决于光纤技术的快速进步。对更高效率，带宽和运行速度的需求与较低的能量消耗相结合，继续推动光子集成电路（PICS）市场的增长。降低测试的成本和复杂性，同时提高吞吐量是必不可少的，因为PIC市场增长加速。

该高分辨率分析仪提供了测试现代无源光学元件所需的全面和高速测试。它结合了高速分量损耗分析仪的好处与Luna经过验证的光学反射仪（OBR）技术的高分辨率时域分析，为制造测试和质量控制提供了一种多功能工具。

Luna 6415提供分布式损耗的光谱分析和时域分析，并在传输和反射模式下工作的测试设备。此外，易于使用的软件简化并加速了集成到自动化生产测试系统中。Luna 6415为制造测试系统提供强大，易于使用和易于集成的测量：

•返回损耗（RL）和插入损耗（IL）分析
•跟踪分布式RL在光路的长度上
•RL和IL的光谱分析
•检测并精确定位反射事件并测量路径长度
•优化生产测试的速度，分辨率和准确性

Luna 6415带来了前所未有的测量速度，准确性，功能和易于集成到集成光子元件的测试。了解Luna 6415的方式在制造地板上提供更完整的测试覆盖范围。