PIC和硅光子学测试

光子综合电路（图片）是通信，光学计算，航空，防御和医疗应用方面的关键推动力推动力。188金宝搏软件但是，图片引入了独特的测量挑战，测试仍然是将产品推向市场的总体成本的巨大贡献。188金宝慱欢迎你对现代图片的有效测试需要更全面，更复杂的方法，以确保最佳性能并降低开发成本。

Luna的广泛测试和测量解决方案为客户提供了高精度，分辨率和测量速度工具，以定量评估芯片上每个组件的光学性能，无论是在原型阶段还是生产中。

露娜（Luna）具有以千分尺级空间分辨率的传输模式或反射模式的技术来查看图片的内部图片，以对设备进行完整的光学特征。

典型的测量包括：

• 插入损失（IL）
• 退货损失（RL）
• 偏振依赖性损耗（PDL）与波长
• 反射率/传输损失与距离
• 反射率/传输损失与波长
• 相响应
• 小组延迟（GD）
• 色散（CD）与波长
• 极化模式分散（PMD）与波长
• 二阶PMD与波长
• 极化导致的最小/最大损失
• 冲动反应
• 琼斯矩阵和穆勒矩阵元素
• 相位涟漪 - 线性和二次
• 极化性能与距离
• 极化串扰与距离
• 极化程度（DOP），极化状态（SOP）和极化灭绝比（PER）