PDL-201测量极化依赖性损耗(PDL),插入损耗(IL)和光功率
PDL-201使用符合TIA / EIA-455-198的专利的最大和最小搜索方法,同时测量仅30毫秒的偏振相关损耗(PDL),插入损耗(IL)和器件的光功率。与使用偏振扰扰方法的PDL仪表不同,PDL-201的MAX-MIN技术对于PDL的低值和高值是有用的。与使用Mueller矩阵技术的仪器不同,PDL-201具有宽波长范围而无需校准。
仪器的测量速度与遥控接口结合允许其与可调谐激光器一起工作,包括自动或半自动测试站。
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