事件
以先进的测试和自动化技术加速硅光子学的发展
概述
这个网络研讨会介绍Luna在硅光子学测试方面的先进方法和枫叶光子学在模具自动化测试方面的模块化和灵活平台，以及如何将这两项技术集成到一个有效的硅光子学完整解决方案中。演讲者将展示如何利用快速和精确的器件表征技术和智能探针站技术，在制造过程的早期，甚至在晶圆完成之前，评估设计和制造的保真度。
与会者将学习如何将这些扩展到后端处理、光学组件和组件形式的各个阶段，以加快开发周期并消除非增值活动。
关键的外卖
- 了解硅光子学测试在晶圆、模具和组件层面的重要性和独特挑战
- 了解如何使用Luna的OBR和OVA技术进行快速和详细的全参数器件表征
- 在制造和开发周期的早期充分描述您复杂的E-O设计，以确定产量限制、性能边际、工厂错误和其他错误
- 快速学习和调整您的测试协议，以揭示最重要的特征，代表您的设计在运行中，并确保制造公差保持
主持人
- Brian J. Soller博士，Luna创新公司高级副总裁兼总经理
- Roe Hemenway博士，首席技术官，枫叶光电子